لخّصلي

تم تحليل نمط حيود الأشعة السينية لجسيمات نانوية من γ-Fe2O3 تم صهرها عند 4000 درجة مئوية. يمكن التعرف على جميع القمم باستخدام بنية γ-Fe2O3، لكن بنية γ-Fe2O3 وFe3O4 متشابهة جدًا، مما يصعب التمييز بينهما من خلال حيود الأشعة السينية وحده. ومع ذلك، يشير التحليل اللاحق إلى عدم وجود Fe3O4 بكميات كبيرة. تم حساب حجم البلورة باستخدام صيغة شيرر مع أقصى عرض نصف قطر يبلغ 311 قمة، مما أدى إلى متوسط حجم بلورة 18 نانومتر. الخلفيات الكبيرة في نمط حيود الأشعة السينية قد تُعزى إلى سوء التبلور، أو الحجم الدقيق مع عدد كبير من الروابط المكسورة على السطح، أو الإمساك غير السليم للعينة. في هذه الحالة، من المرجح أن تكون الخلفيات ناتجة عن حجم النانو وتشوه شكل السطح.

1 نمط حيود الأشعة السينية في درجة حرارة الغرفة لجسيمات نانوية من γ-Fe2O3 تم صهرها عند 4000 درجة مئوية. يمكن التعرف على جميع قمم حيود الأشعة السينية باستخدام بنية γ-Fe2O3. ومع ذلك، فإن γ-Fe2O3 وFe3O4 لهما نفس بنية السبينيل ومواضع قمم حيود الأشعة السينية الخاصة بهما قريبة جدًا من بعضها البعض. لا يمكن استبعاد وجود كمية صغيرة من Fe3O4 على أساس نمط حيود الأشعة السينية وحده. ومع ذلك، سيُظهر توصيفنا اللاحق أن العينة لا تحتوي على Fe3O4 بأي كمية كبيرة. تم الحصول على حجم البلورة باستخدام صيغة شيرر مع عرض أقصى نصف قطر يبلغ 311 قمة بعد التصحيح للتوسيع بالأداة. يأتي متوسط حجم البلورة ليكون18يوجد خلفية كبيرة تنتج عادة عن ضعف التبلور، أو الحجم الدقيق مع وجود عدد كبير من الروابط المكسورة على السطح أو الإمساك غير السليم للعينة. وفي حالتنا من المرجح أن يكون ذلك نتيجة لحجم النانو وتشوه شكل السطح.